之前我们介绍了在Wyn中创建仪表板的一Wyn些基本操作，如添加可视化组件并为其绑定数据字段、设置属性外观等。
除了这些基本的操作，Wyn还支持非常丰富的数据探索能力，比如为组件添加过滤器、排序排名、格式化、添加参考线等等。
您可以在创建仪表板的过程中使用数据探索功能，使仪表板运行时直接呈现预设好的探索数据。也可以在仪表板运行时（仅高级分析模式下支持/标准分析模式不支持）进行数据探索和分析，灵活进行即时的讲解、探索与展示。
注意
仪表板在编辑状态和运行状态下（仅 高级分析模式时）都可以进行数据探索，二者的主要区别为：
- 入口略有不同。编辑状态下，选中组件后可直接选择数据探索方式；运行状态下，需要先单击菜单按钮，再选择具体的探索方式。
- 编辑状态时进行的数据探索可以被保存；运行状态时进行的数据探索不会被保存，当刷新或重新打开仪表板时会恢复到最初状态。
- 另外，数据钻取、文档跳转以及运行时更改数据绑定设置这几项功能只能在运行或预览时使用，不能编辑状态下使用。
本节将为您具体介绍怎样使用Wyn的数据探索与分析功能。